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當前位置:首頁產(chǎn)品中心放射類/磁力儀器放射表/放射計HJ03-TOP-2000植物多譜放射計(冠層分析系統(tǒng))

植物多譜放射計(冠層分析系統(tǒng))

產(chǎn)品簡介

植物多譜放射計(冠層分析系統(tǒng))
1.任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長放射的吸收、發(fā)送或反射,物質(zhì)的特性就能被確定。在實際應(yīng)用時,僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物

產(chǎn)品型號:HJ03-TOP-2000
更新時間:2024-11-05
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:1274
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應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,農(nóng)業(yè),能源波段8個

植物多譜放射計(冠層分析系統(tǒng))

冠層多譜放射計操作原理:
1.任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長放射的吸收、發(fā)送或反射,物質(zhì)的特性就能被確定。在實際應(yīng)用時,僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生物化學(xué)成份。
2.采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù),可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。
3.儀器為8通道通用光譜檢測分析儀,最大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器,用戶可以根據(jù)實際須要定制不同波段的濾光片進行光譜檢測。
4.儀器自帶8個波段的濾光片,主要中心波段為:540nm,650nm,680nm,730nm, 810nm,940nm,1100nm
5.內(nèi)置傳感器自動校正模塊。
冠層多譜放射計應(yīng)用范圍:
 *植物生長調(diào)節(jié)劑的評估
*客觀有效地對各種葉片病害的評級
*監(jiān)測應(yīng)用除草劑的效果 
*用于土壤改善和肥力的研究
*葉面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響 
*不同基因型的特性
*試驗地變異的評估 
冠層多譜放射計特點:
放射計方向360度可調(diào),可以自動校準太陽方向角對測量造成的影響
儀器高矮可調(diào)節(jié)
能夠在少云的情況下使用
8個波段與Landsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似
重量輕、便于攜帶
可以用于無人值守的操作
有筆記本電腦控制及監(jiān)控
數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)入計算機,以便分析之用 
冠層多譜放射計技術(shù)指標:
A、歸一化植被指數(shù)(NDVI)
B、葉面積指數(shù)(LAI)
C、氮數(shù)含量(N)
D、植放射指數(shù)(FITI) 
波段:8個
中心波長:  540nm,650nm,680nm,730nm, 810nm,940nm,1100nm,
操作范圍:0到+50℃,0到100%相對濕度不凝結(jié),<20%的相對濕度下貯藏
反射率區(qū)間:0到100% 
分辨率:0.06% 
精確度:±4% 
檢波器:發(fā)光二極管 
尺寸:100×100×80mm 
存儲數(shù)據(jù)容量:160G
響應(yīng)時間:2秒
重量:1kg
冠層多譜放射計配置:


植物多譜放射計(冠層分析系統(tǒng))

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