電子束實(shí)驗(yàn)儀  電子荷質(zhì)比測(cè)定儀  磁控法電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)儀

型號(hào)：SN/DS-III

電子的電量與質(zhì)量之比稱為電子荷質(zhì)比。它是描述電子性質(zhì)的重要物理量。如磁控管法、 湯姆遜法、 塞曼效應(yīng)法、密立根油滴實(shí)驗(yàn)法及磁聚焦法等。本實(shí)驗(yàn)采用普通物理實(shí)驗(yàn)中的磁聚焦法測(cè)定電子荷質(zhì)比。 其理論與實(shí)驗(yàn)值的相對(duì)誤差＜3%。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：

1.研究電子在長(zhǎng)直螺線管內(nèi)的螺旋運(yùn)動(dòng)；

2.根據(jù)縱向磁場(chǎng)聚焦法，測(cè)定電子電量與電子質(zhì)量的比值。

技術(shù)指標(biāo)：

示波管尺寸：3寸

加速電壓：700V-1000V

燈絲電壓：6.3V

聚焦電壓：120V-200V

長(zhǎng)直螺線管

長(zhǎng)   度：365mm

直   徑：0.0874m

匝   數(shù)：870匝

磁場(chǎng)均勻區(qū)：＞0.25

直流穩(wěn)壓電源

輸出電壓：～30V

輸出電流＞2A  

另配1個(gè)換向開關(guān)

實(shí)驗(yàn)誤差：≤5%